بررسی نوار گاف کریستال های فوتونی سع لایه ای با نقص

thesis
  • وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه پیام نور - دانشگاه پیام نور استان فارس - دانشکده فیزیک
  • author مرضیه دادخواه
  • adviser عبدالرسول قرائتی
  • Number of pages: First 15 pages
  • publication year 1390
abstract

بلورهای فوتونی ساختارهای طبیعی یا مصنوعی هستند که در آن ها ضریب شکست به طور تناوبی تغییر می کند. این ساختارها اجازه انتشار امواج الکترومغناطیسی را درون ناحیه فرکانسی معینی نمی دهند بنابراین نور در این ناحیه کاملاً منعکس می شود. این نواحی ممنوعه، نوار گاف فوتونی نامیده می شود. با وارد کردن لایه ای با ضریب شکست یا ضخامت متفاوت در یک بلور فوتونی می توان مدهای عبوری در نوار گاف مشاهده کرد. هدف اصلی این پایان نامه، بررسی نوار گاف بلورهای فوتونی سه لایه ای با نقص است. در ابتدا بلورهای فوتونی سه لایه ای با نقص با هندسه متقارن و نامتقارن را معرفی می کنیم و سپس ماتریس انتقال هر کدام را محاسبه می کنیم. در مورد وابستگی مدهای عبوری در نوار گاف به زاویه تابش و ضخامت و ضریب شکست لایه نقص بحث می کنیم. با مشاهده طیف انتقال، گاف ها و مدهای بیشتری را در ساختارهای سه لایه ای نسبت به ساختارهای دو لایه ای مشابه یافتیم. مشاهده می کنیم که مدهای نقص در بلور سه لایه ای نسبت به تغییرات ضریب شکست و ضخامت لایه نقص بسیار حساس تر از مدهای نقص در بلور فوتونی دو لایه ای هستند. همچنین در نوار گاف بلور فوتونی سه لایه ای متقارن با نقص دو مد نقص وجود دارد اما در نوار گاف بلور فوتونی سه لایه ای نامتقارن با نقص یک مد نقص وجود دارد. با افزایش زاویه تابش برای دو هندسه متقارن و نامتقارن و برای هر دو قطبش و مدهای نقص به سمت طول موج های کوتاهتر حرکت می کنند. با افزایش ضریب شکست لایه نقص برای بلور فوتونی سه لایه ای نامتقارن مدها به سمت طول موج های بزرگتر حرکت می کند و این تاثیر در بلور فوتونی سه لایه ای متقارن به حرکت مدها به سمت مرکز نوار گاف منجر می شود. به علاوه با افزایش ضخامت لایه نقص در هر دو بلور فوتونی مدها به سمت طول موج های بزرگتر حرکت می-کنند. و هر چه لایه نقص در بلور فوتونی متقارن تر قرار گیرد مد عبوری بهتری در نوار گاف مشاهده می شود.

First 15 pages

Signup for downloading 15 first pages

Already have an account?login

similar resources

بررسی نوار گاف کریستال های فوتونی سه لایه ای متشکل از مواد با ضریب شکست منفی

بلورهای فوتونی ساختارهای طبیعی یا مصنوعی هستند که در آن ها ضریب شکست به طور تناوبی تغییر می کند. این ساختارها اجازه انتشار امواج الکترومغناطیسی را درون ناحیه فرکانسی معینی نمی دهند بنابراین نور در این ناحیه کاملاً منعکس می شود. این نواحی ممنوعه گاف نوار فوتونی نامیده می شود. بلورهای فوتونی یک بعدی ساختارهای دی الکتریکی هستند که خصوصیات اپتیکی-شان در یک جهت تغییر می کند، این جهت محور تناوبی نامید...

15 صفحه اول

مطالعه خواص گاف نواری بلورهای فوتونی شامل لایه نقص ابررسانا

موقع مطالعه در مورد مواد نوری متداول دو نوع ناحیه پراکندگی وجود دارد. در یک ناحیه محیط یکنواخت که تغییرات در ویژگی ماده آن در مقایسه با طول موج نور تابشی خیلی کوچک است(شکل 1-الف)[2]. در این محیط که از ذرات پراکننده مجزا مانند اتم ها ساخته شده، یک پاسخ نوری متوسط توسط اتمها ایجاد می شود. ویژگی نوری چنین موادی بسادگی توسط ثابت دی الکتریک ? بیان می شود. تابش الکترومغناطیسی در چنین محیط هایی به شکل...

15 صفحه اول

بررسی گاف کامل فوتونی در بلورهای فوتونی دو بعدی پلاسمایی

: در این تحقیق ساختار باند فوتونی در بلورهای فوتونی دو بعدی با شبکه مثلثی از میله­ های تلوریم با اشکال هندسی متفاوت در زمینه پلاسما مورد بررسی قرار می­گیرد. نتایج محاسبات عددی بر پایه روش تفاضل های متناهی در حوزه زمان نشان می­دهد که در ساختارهای ذکر شده به ازای پارامترهای ساختاری بهینه، گاف فوتونی کامل با پهنای قابل ملاحظه­ای وجود دارد. پهنای گاف فوتونی کاملِ به دست آمده در این تحقیق از تمامی مق...

full text

خواص گاف باند و مدهای نقص بلور فوتونی یک بعدی شامل لایه نقص پلاسمای مغناطیده

در علم فیزیک و فن آوری، مباحثی چون کاربرد مواد فوتونی و بلورهای نوری که امروزه در عرصه علمی و تکنولوژی از اهمیت بسزایی برخوردار است، از به روزترین مسائل می باشد. در این میان، بررسی ویژگی های بلورهای فوتونی یکی از مباحث مهم جامعه ی علمی است. بیشترین اهمیت بلورهای فوتونی به خاطر وجود باندهای ممنوعه و مدهای نقص آنها است که توانایی کنترل نور را آسانتر می کند.

مهندسی گاف نوار فوتونی در بلورهای فوتونی یک بعدی با استفاده از ضرایب فرنل و مقایسه آن با نتایج روش ماتریس انتقال

In this paper photonic band gaps of 1D photonic crystal are compared by using transfer matrix method and Fresnel coefficients method. In Fresnel coefficients method, the refractive indices of each layer and incidence light angle to the surface are used for calculating Fresnel coefficients, and then the necessary and sufficient condition for a 100% reflection from the surface of double layer die...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


document type: thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه پیام نور - دانشگاه پیام نور استان فارس - دانشکده فیزیک

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023